組み込みプロセッサ EP2S60F484C3N
製品カテゴリー:: | FPGA - フィールドプログラム可能なゲート配列 |
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マウントスタイル:: | SMD/SMT |
最低動作温度:: | 0 C |
I/O の数:: | 334 I/O |
論理配列ブロックの数 - LABs:: | 3022 |
製品カテゴリー:: | FPGA - フィールドプログラム可能なゲート配列 |
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マウントスタイル:: | SMD/SMT |
最低動作温度:: | 0 C |
I/O の数:: | 334 I/O |
論理配列ブロックの数 - LABs:: | 3022 |
製品カテゴリー:: | FPGA - フィールドプログラム可能なゲート配列 |
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マウントスタイル:: | SMD/SMT |
最低の実用温度:: | - 40 C |
I/O の数:: | 260 I/O |
論理配列ブロックの数 - LABs:: | 4964 |
製品カテゴリー:: | FPGA - フィールドプログラム可能なゲート配列 |
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マウントスタイル:: | SMD/SMT |
最低の実用温度:: | 0 C |
I/O の数:: | 488 I/O |
論理配列ブロックの数 - LABs:: | 4224 |
製品カテゴリー:: | FPGA - フィールドプログラム可能なゲート配列 |
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マウントスタイル:: | SMD/SMT |
最低の実用温度:: | 0 C |
I/O の数:: | 744 I/O |
論理配列ブロックの数 - LABs:: | 9120 |
製品カテゴリー:: | FPGA - フィールドプログラム可能なゲート配列 |
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マウントスタイル:: | SMD/SMT |
最低の実用温度:: | - 40 C |
I/O の数:: | 112 |
論理配列ブロックの数 - LABs:: | 250 |
製品カテゴリー:: | FPGA - フィールドプログラム可能なゲート配列 |
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マウントスタイル:: | SMD/SMT |
最低の実用温度:: | 0 C |
I/O の数:: | 544入力/出力 |
論理配列ブロックの数 - LABs:: | 11320 |
製品カテゴリー:: | FPGA - フィールドプログラム可能なゲート配列 |
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マウントスタイル:: | SMD/SMT |
最低の実用温度:: | - 40 C |
I/O の数:: | 452 I/O |
論理配列ブロックの数 - LABs:: | 4964 |
製品カテゴリー:: | FPGA - フィールドプログラム可能なゲート配列 |
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マウントスタイル:: | SMD/SMT |
最低の実用温度:: | 0 C |
I/O の数:: | 178 |
論理配列ブロックの数 - LABs:: | 1563年 |
製品カテゴリー:: | FPGA - フィールドプログラム可能なゲート配列 |
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マウントスタイル:: | SMD/SMT |
最低の実用温度:: | 0 C |
I/O の数:: | 240 I/O |
論理配列ブロックの数 - LABs:: | 29080 |
製品カテゴリー:: | FPGA - フィールドプログラム可能なゲート配列 |
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マウントスタイル:: | SMD/SMT |
最低の実用温度:: | 0 C |
I/O の数:: | 336入力/出力 |
論理配列ブロックの数 - LABs:: | 113560 |
製品カテゴリー:: | FPGA - フィールドプログラム可能なゲート配列 |
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マウントスタイル:: | SMD/SMT |
最低の実用温度:: | - 40 C |
I/O の数:: | 696 I/O |
論理配列ブロックの数 - LABs:: | 234720 |
製品カテゴリー:: | FPGA - フィールドプログラム可能なゲート配列 |
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マウントスタイル:: | SMD/SMT |
最低の実用温度:: | 0 C |
I/O の数:: | 450 I/O |
論理配列ブロックの数 - LABs:: | 3158 |
製品カテゴリー:: | FPGA - フィールドプログラム可能なゲート配列 |
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マウントスタイル:: | SMD/SMT |
最低の実用温度:: | 0 C |
I/O の数:: | 480入力/出力 |
論理配列ブロックの数 - LABs:: | 113560 |
製品カテゴリー:: | FPGA - フィールドプログラム可能なゲート配列 |
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マウントスタイル:: | SMD/SMT |
最低の実用温度:: | 0 C |
I/O の数:: | 364 I/O |
論理配列ブロックの数 - LABs:: | 3022 |